能量色散X射線(xiàn)熒光光譜具有如下優(yōu)點(diǎn)：
 

①儀器結構簡(jiǎn)單，省略了晶體的精密運動(dòng)裝置，也無(wú)需精度調整。還避免了晶體衍射所造成的強度損失。光源使用的X-射線(xiàn)管功率低，一般在100W以下，不需要昂貴的高壓發(fā)生器和冷卻系統，空氣冷卻即可，節省電力。

②能量色散型熒光光譜儀的光源、樣品、檢測器彼此靠得很近，X-射線(xiàn)的利用率很高，不需要光學(xué)聚集，在累積整個(gè)光譜時(shí)，對樣品位置變化不象波長(cháng)色散型熒光光譜儀那樣敏感，對樣品形狀也無(wú)特殊要求。

③在能量色散型熒光光譜儀中，樣品發(fā)出的全部特征X-射線(xiàn)光子同時(shí)進(jìn)入檢測器，這就奠定了使用多道分析器和熒光屏同時(shí)累積和顯示全部能譜(包括背景)的基礎，也能清楚地表明背景和干擾線(xiàn)。因此，半導體檢測器X-射線(xiàn)光譜儀能比晶體X-射線(xiàn)光譜儀快而方便地完成定性分析工作。

④能量色散法的一個(gè)附帶優(yōu)點(diǎn)是測量整個(gè)分析線(xiàn)脈沖高度分布的積分程度，而不是峰頂強度。因此，減小了化學(xué)狀態(tài)引起的分析線(xiàn)波長(cháng)的漂移影響。由于同時(shí)累積還減小了儀器的漂移影響，提高凈計數的統計精度，可迅速而方便地用各種方法處理光譜。同時(shí)累積觀(guān)察和測量所有元素，而不是按特定譜線(xiàn)分析特定元素。因此，見(jiàn)笑了偶然錯誤判斷某元素的可能性。